Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“. Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas. 2000.
eingefügte Teststruktur — bandomasis plokštelės darinys statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. drop in test array vok. eingefügte Teststruktur, f rus. тестовая структура пластины, f pranc. réseau de test sur la tranche, m … Radioelektronikos terminų žodynas
Transfer Line Methode — Die Transfer Line Methode (auch Transferlängen Methode oder Transferlängen Messung) ist ein Verfahren aus den Halbleiter und Werkstoffwissenschaften und bezeichnet die Messung des Kontaktwiderstands mit Hilfe einer zweidimensionalen Teststruktur … Deutsch Wikipedia
Van-der-Pauw-Messmethode — Die Van der Pauw Messmethode dient zur Bestimmung des elektrischen Flächenwiderstandes und des Hall Koeffizienten dünner, homogener Schichten beliebiger Form. In der Halbleiterindustrie spielen Messungen des spezifischen Widerstands und des Hall… … Deutsch Wikipedia
Van-der-Pauw-Methode — Die Van der Pauw Messmethode dient zur Bestimmung des elektrischen Flächenwiderstandes und des Hall Koeffizienten dünner, homogener Schichten beliebiger Form. In der Halbleiterindustrie spielen Messungen des spezifischen Widerstands und des Hall… … Deutsch Wikipedia
Van der Pauw — Die Van der Pauw Messmethode dient zur Bestimmung des elektrischen Flächenwiderstandes und des Hall Koeffizienten dünner, homogener Schichten beliebiger Form. In der Halbleiterindustrie spielen Messungen des spezifischen Widerstands und des Hall… … Deutsch Wikipedia
structure de test — tikrinamasis darinys statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test structure vok. Teststruktur, f rus. тестовая структура, f pranc. structure de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
test structure — tikrinamasis darinys statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test structure vok. Teststruktur, f rus. тестовая структура, f pranc. structure de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
tikrinamasis darinys — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test structure vok. Teststruktur, f rus. тестовая структура, f pranc. structure de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
тестовая структура — tikrinamasis darinys statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test structure vok. Teststruktur, f rus. тестовая структура, f pranc. structure de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
bandomasis plokštelės darinys — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. drop in test array vok. eingefügte Teststruktur, f rus. тестовая структура пластины, f pranc. réseau de test sur la tranche, m … Radioelektronikos terminų žodynas
